2022年地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)申報(bào)條件

地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)分為 甲、乙 兩個(gè)等級(jí)。地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)的類別包括 地質(zhì)災(zāi)害評(píng)估、勘查、設(shè)計(jì)資質(zhì)、地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工資質(zhì)、地質(zhì)災(zāi)害治理工程監(jiān)理資質(zhì)。

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自然資源部負(fù)責(zé)地質(zhì)災(zāi)害防治單位甲級(jí)資質(zhì)的審批和監(jiān)督管理。省級(jí)人民政府自然資源主管部門負(fù)責(zé)地質(zhì)災(zāi)害防治單位乙級(jí)資質(zhì)的審批和監(jiān)督管理。

同一地質(zhì)災(zāi)害治理工程的監(jiān)理單位與施工單位不得有隸屬關(guān)系或者其他利害關(guān)系。

【資質(zhì)條件】 申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)應(yīng)當(dāng)符合下列條件：

（一）具有法人資格地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求，其中申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工資質(zhì)的單位應(yīng)當(dāng)具有企業(yè)法人資格；

（二）具有資源與環(huán)境類、土木水利類相關(guān)專業(yè)技術(shù)人員地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求，其中單位技術(shù)負(fù)責(zé)人應(yīng)當(dāng)具有高級(jí)技術(shù)職稱；專業(yè)

技術(shù)人員中退休人員數(shù)量不超過(guò)本辦法規(guī)定的專業(yè)技術(shù)人員最低數(shù)量要求的10%；

（三）申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害評(píng)估勘查設(shè)計(jì)資質(zhì)地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求，應(yīng)當(dāng)具備全站儀、水準(zhǔn)儀、探地雷達(dá)等設(shè)備；申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程

施工資質(zhì)，應(yīng)當(dāng)具備全站儀、水準(zhǔn)儀、錨桿錨索鉆機(jī)、鑿巖機(jī)等設(shè)備。

（四）具有健全的安全管理體系和質(zhì)量管理體系。

【人員和業(yè)績(jī)條件】 申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)，除本辦法第七條規(guī)定的條件外，還應(yīng)當(dāng)具備以下人員

和業(yè)績(jī)條件：

（一）甲級(jí)資質(zhì)

1.人員條件： 申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害評(píng)估勘查設(shè)計(jì)資質(zhì)、地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工資質(zhì)的單位，專業(yè)技術(shù)人員總數(shù)不少于 50人，其中高級(jí)、中級(jí)技術(shù)職稱人員總數(shù)不少于 25 人，高級(jí)技術(shù)職稱人員不少于10 人；申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程監(jiān)理資質(zhì)的單位，專業(yè)技術(shù)人員總數(shù)不少于 30 人，其中高級(jí)、中級(jí)技術(shù)職稱人員總數(shù)不少于 20 人，高級(jí)技術(shù)職稱人員不少于 10 人。

2.業(yè)績(jī)條件： 申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害評(píng)估勘查設(shè)計(jì)資質(zhì)的單位，申請(qǐng)之日前 5 年內(nèi)應(yīng)當(dāng)獨(dú)立承擔(dān)并完成地質(zhì)災(zāi)害危險(xiǎn)性評(píng)估、地質(zhì)災(zāi)害治理工程勘查項(xiàng)目、地質(zhì)災(zāi)害治理工程設(shè)計(jì)項(xiàng)目總數(shù)不少于5 項(xiàng)，完成項(xiàng)目總經(jīng)費(fèi)不少于60 萬(wàn)元；申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工資質(zhì)的單位，申請(qǐng)之日前 5年內(nèi)應(yīng)當(dāng)獨(dú)立承擔(dān)并完成地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工項(xiàng)目不少于 5 項(xiàng)，完成項(xiàng)目總經(jīng)費(fèi)不少于1000 萬(wàn)元；申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程監(jiān)理資質(zhì)的單位，申請(qǐng)之日前 5年內(nèi)應(yīng)當(dāng)獨(dú)立承擔(dān)并完成地質(zhì)災(zāi)害治理工程監(jiān)理項(xiàng)目不少于 5 項(xiàng)，完成項(xiàng)目總經(jīng)費(fèi)不少于30 萬(wàn)元。

（二）乙級(jí)資質(zhì)

人員條件： 申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害評(píng)估勘查設(shè)計(jì)資質(zhì)、地質(zhì)災(zāi)害治理工程監(jiān)理資質(zhì)的單位，專業(yè)技術(shù)人員總數(shù)不少于 10人，其中高級(jí)技術(shù)職稱人員不少于3 人；申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工資質(zhì)的單位，專業(yè)技術(shù)人員總數(shù)不少于20 人，其中高級(jí)技術(shù)職稱人員不少于 5 人。

【申請(qǐng)材料】 申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)的單位，應(yīng)當(dāng)向?qū)徟鷻C(jī)關(guān)提出申請(qǐng)，并提交以下材料：

（一）地質(zhì)災(zāi)害防治單位資質(zhì)申請(qǐng)書；

（二）營(yíng)業(yè)執(zhí)照或者事業(yè)單位法人證書；

（三）專業(yè)技術(shù)人員名單、身份證、職稱證書、學(xué)歷證書、申報(bào)前連續(xù)3個(gè)月由本單位繳納社會(huì)保險(xiǎn)記錄文件，技術(shù)負(fù)責(zé)人的任命或者聘任文件；

（四）本單位設(shè)備的所有權(quán)材料或者租賃合同；

（五）職業(yè)健康安全管理體系認(rèn)證證書或者安全管理制度文件；

（六）質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書或者質(zhì)量管理制度文件；

（七）申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害評(píng)估勘查設(shè)計(jì)甲級(jí)資質(zhì)的單位，還應(yīng)當(dāng)提供申報(bào)業(yè)績(jī)的項(xiàng)目合同、驗(yàn)收?qǐng)?bào)告或者專家評(píng)審意見(jiàn)；申請(qǐng)地質(zhì)災(zāi)害治理工程施工甲級(jí)資質(zhì)、地質(zhì)災(zāi)害治理工程監(jiān)理甲級(jí)資質(zhì)的單位，還應(yīng)當(dāng)提供申報(bào)業(yè)績(jī)的項(xiàng)目合同、驗(yàn)收?qǐng)?bào)告。申報(bào)業(yè)績(jī)的信息應(yīng)當(dāng)與全國(guó)地質(zhì)勘查行業(yè)監(jiān)管服務(wù)平臺(tái)公示的有關(guān)業(yè)績(jī)信息相一致。

地質(zhì)雷達(dá)探測(cè)工作布置原則

1、操作測(cè)試天線的工人必須佩戴安全帽、腰系安全帶、手帶手套、操作平臺(tái)的防護(hù)圍欄必須高過(guò)工人的腰部。

2、在測(cè)試隧道拱腰時(shí)，操作天線的工人手舉天線的手必須高過(guò)平臺(tái)防護(hù)圍欄的高度，手扶圍欄時(shí)絕對(duì)禁止手扶靠近襯砌且與襯砌平行的圍欄，以免夾上工人的手臂或手掌。

3、在測(cè)試拱頂和拱腰時(shí)，操作測(cè)試天線工人旁的觀測(cè)工人應(yīng)該隨時(shí)注意圍欄與拱頂、拱腰的距離，指揮檢測(cè)臺(tái)車司機(jī)操作平臺(tái)的空間位置，防止撞上襯砌導(dǎo)致平臺(tái)垮塌，釀成大事故。

4、在測(cè)試前，請(qǐng)隧道隊(duì)將測(cè)試段落上的車輛、雜物等清理干凈，方便測(cè)試檢測(cè)臺(tái)車或測(cè)試人員通過(guò)。

5、嚴(yán)禁使用挖掘機(jī)作為測(cè)試平臺(tái)。

地質(zhì)雷達(dá)

3.3.7.1 方法簡(jiǎn)介

3.3.7.1.1 基本原理

地質(zhì)雷達(dá)也稱探地雷達(dá)地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求，是利用高頻電磁波束在界面上地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求的反射來(lái)探測(cè)目標(biāo)物，由發(fā)射天線和接收天線組成。發(fā)射天線向地下發(fā)射高頻短脈沖電磁波，接收天線則接收來(lái)自地下介質(zhì)交界面地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求的反射電磁波。由于電磁波向地下傳播速度主要受地下介質(zhì)電性控制，在介質(zhì)電性發(fā)生變化的界面，電磁波會(huì)發(fā)生反射。通過(guò)研究電磁波在介質(zhì)中的傳播速度、介質(zhì)對(duì)電磁波的吸收及介質(zhì)交界面的反射，并用時(shí)間剖面圖像表示出地下各分界面的形態(tài)，從而推測(cè)地下地質(zhì)體及地層結(jié)構(gòu)的分布規(guī)律。

3.3.7.1.2 應(yīng)用范圍及適用條件

地質(zhì)雷達(dá)是一種高分辨率探測(cè)技術(shù)，可以對(duì)淺層地質(zhì)問(wèn)題進(jìn)行詳細(xì)的地質(zhì)填圖，淺層埋藏物進(jìn)行無(wú)損探測(cè)。由于電磁波能量在碳酸鹽巖區(qū)衰減快，勘探深度較淺主要適用于碳酸鹽巖裸露或覆蓋層淺的地區(qū)，目前廣泛用于地基探查、地下空洞、巖溶、破碎帶、斷層等地質(zhì)構(gòu)造探測(cè)。

要求發(fā)射的電磁波能量必須足夠大，探測(cè)距離能夠達(dá)到目標(biāo)體，并能返回地面被系統(tǒng)接收；目標(biāo)體阻抗差別足夠大，有足夠的反射或散射能量為系統(tǒng)所識(shí)別；目標(biāo)體的幾何形態(tài)必須盡可能了解清楚，正確選用天線中心頻率；測(cè)區(qū)干擾不足以影響目標(biāo)物的反射信息。

3.3.7.1.3 工作布置原則與觀測(cè)方法

主測(cè)線應(yīng)垂直地下目標(biāo)體走向，輔助測(cè)線平行目標(biāo)體走向，可更好地反映目標(biāo)體形態(tài)，測(cè)線應(yīng)盡量通過(guò)已有的井位，以利于地層的對(duì)比。

目前常用的觀測(cè)方法有剖面法和寬角法兩種。

剖面法：發(fā)射天線和接收天線以固定間距沿測(cè)線同步移動(dòng)的一種測(cè)量方式。

寬角法：發(fā)射天線固定在地面某一點(diǎn)上不動(dòng)，而接收天線沿測(cè)線逐點(diǎn)移動(dòng)，記錄地下各個(gè)不同界面反射波的雙程走時(shí)的測(cè)量方式。

3.3.7.1.4 資料整理及成果解釋

檢查驗(yàn)收合格的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)濾波及二維偏移歸位等處理，經(jīng)過(guò)反射層的拾取，編繪探地雷達(dá)圖像剖面，最終形成推斷成果圖等。

由于雷達(dá)反射界面是電性界面，與地層分界面并不一致，如相鄰地層有相近的波阻抗、同一巖層中的含水帶界面、多個(gè)薄層的地質(zhì)界面組合等。同時(shí)雷達(dá)時(shí)間剖面轉(zhuǎn)換為深度剖面的精度，分辨率的限制，旁側(cè)界面反射波的影響等因素，給雷達(dá)資料帶來(lái)很多假象，使雷達(dá)剖面解釋存在多解性。因此成果解釋必須結(jié)合地質(zhì)、鉆探資料，根據(jù)反射波組的波形與強(qiáng)度特征，通過(guò)同相軸的追蹤，確定反射波組的地質(zhì)意義，建立測(cè)區(qū)地質(zhì)—地球物理模型，構(gòu)筑地質(zhì)—地球物理綜合解釋剖面。

3.3.7.2 試驗(yàn)情況

本次實(shí)驗(yàn)主要選擇了表層帶富水塊段納堡村地區(qū)、天然出露的巖溶水源地皮家寨工區(qū)，目的是為了查明地表至30m深度的蓋層結(jié)構(gòu)、完整穩(wěn)定性、水文地質(zhì)結(jié)構(gòu)、巖溶發(fā)育特征及富水性。對(duì)裸露型隱伏的巖溶水源地大衣村和萬(wàn)畝果園及覆蓋型隱伏的巖溶水源地三家村和大興堡實(shí)驗(yàn)區(qū)擬實(shí)施鉆孔位置也布置了少量地質(zhì)雷達(dá)剖面。共布置剖面94條，總長(zhǎng)3.4km，其中納堡村實(shí)測(cè)66條剖面，長(zhǎng)1635m。

本次試驗(yàn)使用SIR-20型地質(zhì)雷達(dá)，天線類型SIR-100MHZ，掃描時(shí)窗250～600ns，工作方法為連續(xù)剖面測(cè)量。

3.3.7.3 主要成果

納堡村探測(cè)結(jié)果，表層結(jié)構(gòu)大致分為兩層：第一層為第四系覆蓋層，巖性為粘土，厚度在2～6m，時(shí)窗為0～100ns，表現(xiàn)為能量強(qiáng)、頻率較高，連續(xù)性較好的波組特征；第二層為個(gè)舊組風(fēng)化灰?guī)r，厚度8～16m，時(shí)窗為50～300ns，表現(xiàn)為能量較弱且變化大、頻率較低，連續(xù)性差的波組特征；向下則表現(xiàn)為無(wú)明顯反射或雜亂零星反射的“平靜帶”波組特征，表明已進(jìn)入基巖(完整灰?guī)r)層。

圖3-18為納堡小學(xué)L20線的測(cè)量結(jié)果，雷達(dá)反射波大致分為三層，第一層時(shí)窗0～80ns，為能量強(qiáng)、頻率較高的波組特征，深度約5m，反映了第四系覆蓋層；第二層時(shí)窗80～300ns，為能量弱、變化大、頻率較低的波組特征，深度約5～16m，反映了風(fēng)化灰?guī)r層；第三層時(shí)窗300ns以上，為無(wú)明顯反射或雜亂零星的波組特征，推斷已進(jìn)入完整的灰?guī)r層。在剖面10～15m處，時(shí)窗范圍160～200ns，深度約9～12m范圍內(nèi)，地質(zhì)雷達(dá)記錄出現(xiàn)明顯的強(qiáng)反射波異常，推斷解釋為巖溶裂隙含水層。經(jīng)施工的淺鉆驗(yàn)證，覆蓋層厚5.15m，5.15～15m巖溶發(fā)育，以溶隙、溶洞、溶孔為主，為主要含水層段，涌水量36m3/d，15m以下巖溶不發(fā)育，富水性弱，與推斷結(jié)果吻合。

圖3-18 瀘西小江流域納堡村納堡小學(xué)L20線地質(zhì)雷達(dá)曲線

納堡村賓珍紅商店地質(zhì)雷達(dá)測(cè)量未發(fā)現(xiàn)異常，反射波為明顯的兩層，頂部覆蓋層為高能量波特征，時(shí)窗0～100ns，厚度約6m，下部為基巖的平靜弱反射波特征，經(jīng)ZK2淺鉆驗(yàn)證，基巖埋深6.7m，孔深30.3m未見(jiàn)水，探測(cè)結(jié)果與驗(yàn)證結(jié)果一致。

納堡村實(shí)驗(yàn)點(diǎn)共圈出8處地質(zhì)雷達(dá)異常，經(jīng)鉆孔驗(yàn)證4處，除1處水量小外，3處表層巖溶水較豐富。

圖3-19為皮家寨大泉旁實(shí)測(cè)地質(zhì)雷達(dá)剖面，大致可分為兩層，第一層時(shí)窗0～60ns，波組連續(xù)穩(wěn)定，反映出第四系覆蓋層厚度為1～3m；時(shí)窗60～300ns，地質(zhì)雷達(dá)曲線顯示為雜亂反射、振幅變強(qiáng)、頻率變低的異?，F(xiàn)象，推斷該區(qū)地下3～16m之間的個(gè)舊組灰?guī)r中巖溶裂隙較為發(fā)育，局部存在較大充填或未充填的溶洞，如L73線7m、28m、55m處推斷為巖溶含水區(qū)，與高密度電法38線100～110點(diǎn)的低阻異常對(duì)應(yīng)。經(jīng)鉆孔驗(yàn)證，溶洞，溶孔發(fā)育，與推斷結(jié)果吻合。

圖3-19 瀘西小江流域皮家寨L73線地質(zhì)雷達(dá)曲線

3.3.7.4 結(jié)論

地質(zhì)雷達(dá)反射波組特征：巖溶裂隙含水層為明顯的強(qiáng)反射波異常；第四系覆蓋層為能量強(qiáng)、頻率較高，連續(xù)性較好的反射波；風(fēng)化灰?guī)r層為能量較弱且變化大、頻率較低，連續(xù)性差的反射波；完整灰?guī)r層為無(wú)明顯反射或雜亂零星反射的“平靜帶”特征。

地質(zhì)雷達(dá)在探測(cè)深度0～30m范圍內(nèi)，分辨率較高，對(duì)表層巖溶裂隙發(fā)育帶探測(cè)效果較好，劃分的覆蓋層厚度較接近，誤差均小于1m。推斷的巖溶發(fā)育異常帶，準(zhǔn)確度很高，是表層巖溶找水的有效方法之一。

探地雷達(dá)的應(yīng)用

探地雷達(dá)是一種高分辨率探測(cè)技術(shù),可以對(duì)淺層地質(zhì)問(wèn)題進(jìn)行詳細(xì)填圖,也可以對(duì)地下淺部埋藏的目的體進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。由于電子技術(shù)與數(shù)字處理技術(shù)的發(fā)展,使探地雷達(dá)的分辨率與探測(cè)深度大大提高,探地雷達(dá)已在工程地質(zhì)勘察、災(zāi)害地質(zhì)調(diào)查、地基基礎(chǔ)施工質(zhì)量檢測(cè)、考古調(diào)查、管線探測(cè)、公路工程質(zhì)量檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。下面介紹探地雷達(dá)在兩個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。

（一）探地雷達(dá)在工程地質(zhì)勘察中的應(yīng)用

大型工程建筑對(duì)地基質(zhì)量要求很高,當(dāng)?shù)叵鹿こ痰刭|(zhì)條件橫向變化較大時(shí),常規(guī)的鉆探工作由于只能獲得點(diǎn)上的資料,無(wú)法滿足基礎(chǔ)工程施工對(duì)地質(zhì)條件的要求,而探地雷達(dá)由于能對(duì)地下剖面進(jìn)行連續(xù)掃描,因而在工程地質(zhì)勘察中得到了廣泛的應(yīng)用。

1.基巖面的探地雷達(dá)探測(cè)

高層建筑對(duì)地基的附加應(yīng)力影響深、范圍廣,對(duì)地基土的承載力要求高。當(dāng)場(chǎng)地的地基土層軟弱,而在其下不太深處又有較密實(shí)的基巖持力層時(shí),常常采用進(jìn)入基巖的樁基礎(chǔ),在基巖面起伏劇烈地區(qū),詳細(xì)描述基巖面的起伏對(duì)樁基礎(chǔ)設(shè)計(jì)有重要意義。

圖3-53 灰?guī)r與覆蓋地層的探地雷達(dá)圖像

廣州同德花園位于廣州西北郊同德鄉(xiāng)廣佛高速公路旁。第四系覆蓋在基巖（灰?guī)r）上,第四系為淤泥、粉質(zhì)黏土與砂,比較松軟；其下為灰?guī)r,有較高的承載力。建筑物擬采用預(yù)制樁樁基礎(chǔ)。在樓址范圍30.8 m× 30.8m內(nèi),基巖深度為18～43.5 m,高差達(dá)25.5m,為此需要詳細(xì)調(diào)查基巖面的起伏。由于灰?guī)r與上覆地層之間電性差異大,探地雷達(dá)圖像中灰?guī)r極易識(shí)別,圖3-53為該場(chǎng)地地層的探地雷達(dá)圖像,圖中灰?guī)r反射波特征明顯。

圖3-54是由探地雷達(dá)測(cè)量結(jié)果繪制的基巖等深圖。該場(chǎng)地西北角為基巖深凹陷,基巖面起伏最大之處,在10m水平距離內(nèi)基巖面高差可達(dá)19m。顯然,用鉆探很難控制基巖面的劇烈起伏,上述結(jié)果表明,應(yīng)用探地雷達(dá)探測(cè)基巖起伏效果明顯。

圖3-54 同德花園10棟基巖等深圖（單位：m）

2.巖溶地區(qū)的探地雷達(dá)探測(cè)

巖溶（又稱喀斯特）是指碳酸鹽巖等可溶性巖層受水的化學(xué)和物理作用所產(chǎn)生的溝槽裂隙和空洞,以及由于空洞頂板塌落使地表產(chǎn)生陷穴、洼地等現(xiàn)象和作用的總稱。

在巖溶地區(qū)進(jìn)行工程地質(zhì)勘察的主要目的是查明建筑場(chǎng)地范圍內(nèi)巖溶的分布、形狀和規(guī)模。下面對(duì)各類巖溶的探地雷達(dá)圖像特征加以描述。

（1）節(jié)理裂隙巖溶

水對(duì)灰?guī)r的侵蝕一般從節(jié)理裂隙開(kāi)始,巖溶本身往往就是裂隙溶蝕、擴(kuò)大的結(jié)果,因此節(jié)理裂隙交叉處或密集帶往往就是巖溶發(fā)育帶。圖3-55為湖北黃石某地裂隙溶蝕帶的探地雷達(dá)圖像。從圖中可以看出地下6m以上為覆蓋層,其下為灰?guī)r?；?guī)r致密無(wú)溶蝕特征時(shí),基本上無(wú)雷達(dá)反射波存在；灰?guī)r中存在溶蝕裂隙并充水時(shí),由于電性差異大,形成強(qiáng)反射波。在探地雷達(dá)確定的裂隙巖溶處進(jìn)行鉆探,其結(jié)果表明該處沒(méi)見(jiàn)明顯空洞,但該處巖體裂隙發(fā)育,鉆孔漏水嚴(yán)重。由此證實(shí)該雷達(dá)圖像反映的是由地下水在裂隙發(fā)育帶形成的裂隙巖溶。

圖3-55 裂隙巖溶的探地雷達(dá)圖像

圖3-56 溶蝕溝的探地雷達(dá)圖像

（2）溶蝕溝槽

灰?guī)r長(zhǎng)期出露地表時(shí),其表面遭受風(fēng)化后強(qiáng)度降低。灰?guī)r表面地形變化劇烈的地方,會(huì)由于地表的大徑流,使其表面受強(qiáng)烈侵蝕而形成溶溝、溶槽。圖3-56為廣州市某處溶蝕溝的探地雷達(dá)圖像。由圖可見(jiàn),灰?guī)r中反射波明顯減弱,同相軸中斷的區(qū)域?yàn)榛規(guī)r的溶蝕溝。由于溝壁陡直,在地表接收不到來(lái)自溝壁的反射波,而溝壁周界的灰?guī)r會(huì)由于溶蝕作用形成強(qiáng)反射波,因此溶蝕溝圈定應(yīng)以強(qiáng)反射波為周界。該處地下灰?guī)r為石炭系灰?guī)r,曾長(zhǎng)期出露地表,在灰?guī)r的斜坡面上會(huì)由于地表徑流的侵蝕形成溶蝕溝。在地殼下降后,溶蝕溝逐漸為粉土充填。

（3）溶洞與開(kāi)口溶洞

溶洞是可溶巖中的空洞,對(duì)建筑基礎(chǔ)影響最大的是可溶巖面附近的溶洞。當(dāng)巖面覆蓋著易被沖蝕的滲透地層,且?guī)r溶與上覆地層存在水力聯(lián)系時(shí),這種水力聯(lián)系會(huì)加速巖溶發(fā)育。當(dāng)巖溶頂部變薄,不能支持上覆地層負(fù)荷時(shí),就會(huì)發(fā)生塌落,形成開(kāi)口溶洞。在開(kāi)口溶洞上方土體中存在被沖蝕,以致土體密度降低的現(xiàn)象,我們稱為土體擾動(dòng)。圖3-57為廣州市某處的開(kāi)口溶洞的探地雷達(dá)圖像。該處覆蓋層為細(xì)顆粒粉砂,有一定的滲透性,其下為灰?guī)r?；?guī)r面附近巖溶發(fā)育,可見(jiàn)不規(guī)則強(qiáng)反射波。在強(qiáng)反射波所圍繞的區(qū)域內(nèi)有一組短周期細(xì)密反射波。該反射波組特征與上覆地層反射波特征類似,這表明灰?guī)r中空洞已被上覆地層沖蝕的土體所充填。由于開(kāi)口溶洞上方土體已遭沖蝕,其反射波形態(tài)與周圍土層的反射波形態(tài)不同,表明上覆地層已遭擾動(dòng)。擾動(dòng)土層與充填溶洞構(gòu)成了開(kāi)口溶洞特征。這類巖溶使上覆地層承載力明顯降低,極易引起坍塌,在巖溶地區(qū)勘察時(shí)這類開(kāi)口溶洞應(yīng)引起注意。

圖3-57 開(kāi)口溶洞的探地雷達(dá)圖像

（二）探地雷達(dá)在地基基礎(chǔ)施工中的應(yīng)用

1.探地雷達(dá)在樁基礎(chǔ)施工障礙成因調(diào)查中的應(yīng)用

近年來(lái),大型建筑物采用樁基礎(chǔ)施工的數(shù)量越來(lái)越多。由于勘探程度不夠或地下介質(zhì)不均勻程度加劇,造成樁基礎(chǔ)施工遇阻。實(shí)踐表明,探地雷達(dá)在判斷樁基礎(chǔ)施工遇阻的原因方面有獨(dú)到作用。

（1）樁位處地層斷裂性質(zhì)判別

武漢火炬大廈樁基礎(chǔ)施工過(guò)程中,在武珞路北擬建的33層高層建筑東北角51＃挖孔樁遇到破碎地層。為評(píng)價(jià)樁位下地層破碎的成因及其對(duì)樁位的影響,圍繞樁位進(jìn)行了探地雷達(dá)測(cè)量。場(chǎng)區(qū)基坑已開(kāi)挖,第四系填土已被挖除,地層系志留系泥巖。志留系原巖曾長(zhǎng)期出露地表,經(jīng)風(fēng)化自上而下可分為全風(fēng)化層、中風(fēng)化層與微風(fēng)化層。無(wú)破碎帶存在時(shí),反射波同相軸連續(xù)。當(dāng)基巖因斷裂而形成破碎帶時(shí),反射波同相軸明顯錯(cuò)斷。由于破碎帶為地下水入侵提供了通道,造成風(fēng)化程度加深,錯(cuò)動(dòng)帶內(nèi)雷達(dá)反射波強(qiáng)度明顯減弱。圖3-58為基巖破碎帶的探地雷達(dá)圖像特征。為了了解樁位處斷裂情況,圍繞樁位布置了雷達(dá)測(cè)線。根據(jù)地質(zhì)雷達(dá)圖像,得到基巖破碎帶的平面分布,如圖3-59所示。由圖可見(jiàn),51＃樁位于兩條斷裂之間,這兩條斷裂應(yīng)為褶皺形成時(shí)的伴生斷裂,斷距?。ǎ?m）,斷裂帶寬度不大（1.6m左右）,因此只要根據(jù)破碎帶力學(xué)性質(zhì)對(duì)樁的設(shè)計(jì)做些小改動(dòng),就可以繼續(xù)進(jìn)行挖孔樁施工。上述結(jié)論已為設(shè)計(jì)部門接受并為隨后的挖孔樁施工所證實(shí)。

圖3-58 基巖破碎帶探地雷達(dá)圖像

圖3-59 雷達(dá)測(cè)線布置與破碎帶分布平面圖

（2）樁基礎(chǔ)下異常性質(zhì)判斷

粵漢碼頭灘地改造一期工程住宅樓場(chǎng)址在進(jìn)行沉管灌注樁施工過(guò)程中,有的樁位遇阻打不下去,有的樁位水泥超量使用。為查明樁基施工過(guò)程中問(wèn)題的癥結(jié),圍繞樁位用探地雷達(dá)進(jìn)行了探測(cè)。在樁基礎(chǔ)施工中主要出現(xiàn)的問(wèn)題有兩類：一是遇障礙物,樁很難打下去；二是樁非常容易打下去,但澆灌的混凝土大大超出樁的體積。探地雷達(dá)測(cè)量所發(fā)現(xiàn)的異常有三種類型：一是雜填土中硬物異常；二是雜填土中的不密實(shí)區(qū)；三是淤泥液化形成的空穴。本場(chǎng)地為緊靠長(zhǎng)江的灘地,為防洪在地表下填充了大量雜填土。當(dāng)雜填土中存在建筑垃圾等雜物時(shí),便形成了與周圍介質(zhì)差異極大的強(qiáng)、寬反射波,這類異常沒(méi)能在周圍測(cè)線形成有規(guī)則的排列,故定為硬性雜物,如圖3-60（a）所示。當(dāng)雜填土堆積比較疏松,形成雜填土中的不密實(shí)區(qū),這類填土可能是生活垃圾等細(xì)軟物質(zhì),形成同相軸雜亂的反射波,如圖3-60（b）所示。按場(chǎng)地地質(zhì)勘測(cè)結(jié)果,粉砂層上有一層粉質(zhì)黏土。當(dāng)粉質(zhì)黏土中淤泥質(zhì)含量高且下伏的粉砂顆粒較粗時(shí),淤泥質(zhì)土受到樁基礎(chǔ)施工擾動(dòng)形成液狀土,當(dāng)其水分通過(guò)下伏透水性好的砂層滲漏時(shí)便會(huì)形成空穴。這種空穴形成有下列三個(gè)條件：一是下伏粉砂顆粒較粗,透水性好；二是粉土顆粒變細(xì)向淤泥質(zhì)土靠近,含水率高；三是在這種土中進(jìn)行樁基礎(chǔ)施工造成擾動(dòng)。當(dāng)這三個(gè)條件都具備時(shí),會(huì)在這類土中形成空穴,如圖3-60（c）所示。

圖3-60 三種地下異常的探地雷達(dá)圖像

（a）雜填硬物的地質(zhì)雷達(dá)圖像；（b）不密實(shí)區(qū)的地質(zhì)雷達(dá)圖像；（c）淤泥液化成空穴的地質(zhì)雷達(dá)圖像

2.探地雷達(dá)在地下頂管問(wèn)題調(diào)查中的應(yīng)用

在老城區(qū)改造進(jìn)行地下水管道及煤氣管道鋪設(shè)時(shí),為不影響地面交通,常采用地下頂管工藝鋪設(shè)管道。在地下地質(zhì)情況復(fù)雜區(qū),頂管常會(huì)遇到問(wèn)題,極需查明情況采取對(duì)策。實(shí)踐表明,探地雷達(dá)在查明地下頂管問(wèn)題過(guò)程中效果明顯。

（1）頂管引起地下塌陷原因剖析

上海曲阜路地下煤氣管道的地下頂管施工過(guò)程中,文安路口東頭路面發(fā)生陷落,為決定煤氣管是繼續(xù)采用地下頂管施工,還是采用大開(kāi)挖施工,必須查明陷落范圍與成因,為此應(yīng)用探地雷達(dá)進(jìn)行探查。圖3-61為該段探地雷達(dá)圖像。在地表32～54m范圍,深度1.5～4m處可見(jiàn)到反射波特征明顯不同于周圍介質(zhì)的區(qū)域。該處反射波強(qiáng)度明顯加大,反射波同相軸明顯不連續(xù),呈現(xiàn)雜散充填物的反射波特征。該處緊挨吳淞江,地表有流入?yún)卿两闹Я?因此在筑路時(shí)填充有雜填土。由圖還可見(jiàn)到,在更大范圍（地表2～54m）內(nèi)有反射波強(qiáng)度變?nèi)?、周期變短的區(qū)域,具有均質(zhì)淤泥反射波特征,故該處應(yīng)為雜填土的沉積物范圍。淤泥液化度高,在地下頂管過(guò)程中受到擾動(dòng),飽和孔隙水釋放,淤泥塌陷,造成路基承載力下降,路面陷落。淤泥變形區(qū)的周界處可見(jiàn)到反射波同相軸的明顯錯(cuò)斷。

圖3-61 上海曲阜路探地雷達(dá)圖像

（2）地下頂管前方障礙物探查

根據(jù)市政建設(shè)需要,南京市下水管道需在水關(guān)橋公鐵立交橋下通過(guò)。水關(guān)橋公鐵立交橋采用沉箱工藝建筑,由于地下存在淤泥質(zhì)軟基地層,在沉箱下填有碎石加固基礎(chǔ)。下水管過(guò)立交橋采用地下頂管工藝,為了頂管安全,要求應(yīng)用探地雷達(dá)探測(cè)管線通過(guò)處有無(wú)地下障礙物存在。測(cè)量采用頂管前方超前預(yù)報(bào)的環(huán)形剖面與管線地表剖面探測(cè)相結(jié)合的方法。圖3-62為1＃管超前探測(cè)環(huán)形剖面雷達(dá)圖像,可見(jiàn)有兩道雷達(dá)波形在頂管前方10m以遠(yuǎn),尤其在11.6～14.8m范圍內(nèi)有孤立的人為障礙物存在。圖3-63為1＃管線地表剖面的雷達(dá)圖像,表明該處箱體下軟基發(fā)育,淤泥底界深約4m。在箱體下軟基發(fā)育段,淤泥底界面上有一不連續(xù)窄反射波。這與頂管前方探測(cè)的異常是一致的,該異常應(yīng)為箱體基礎(chǔ)施工過(guò)程中加固物沒(méi)入淤泥底所形成的。工作結(jié)果表明,在管線通過(guò)處前方無(wú)人為的大直徑障礙物存在,而孤立的小塊障礙物由于處在淤泥中,極易被頂管推動(dòng)而移開(kāi),不會(huì)造成施工障礙,上述結(jié)論已為施工所證明。

圖3-62 1＃管超前預(yù)報(bào)環(huán)形剖面雷達(dá)圖像

1＃頂管面前方10～14.5m有孤立的接近0.3m的塊石

圖3-63 1＃管線地表剖面雷達(dá)圖像

本項(xiàng)目重點(diǎn)

本項(xiàng)目重點(diǎn)介紹了電磁感應(yīng)法理論基礎(chǔ),并將頻率測(cè)深,尤其可控源音頻大地電磁測(cè)深法,以及瞬變電磁法作為重點(diǎn)方法給予介紹。

思考題

1.方法名詞理解：

電磁法；電磁測(cè)深法；電磁剖面法；瞬變電磁法；可控源音頻大地電磁法；探地雷達(dá)法。

2.闡述電磁法的基本原理。

3.闡述電磁測(cè)深法的基本原理和應(yīng)用范圍。

4.闡述電磁剖面法的基本原理和應(yīng)用范圍。

5.闡述瞬變電磁法的基本原理和應(yīng)用范圍。

6.闡述可控源音頻大地電磁法的基本原理。

7.闡述探地雷達(dá)的基本原理和應(yīng)用范圍。

8.試對(duì)比時(shí)間域和頻率域電磁法的優(yōu)缺點(diǎn)。

9.試述對(duì)稱四極裝置直流電測(cè)深、大地電磁測(cè)深、頻率測(cè)深和瞬變測(cè)深曲線的共同點(diǎn)和不同點(diǎn)。

10.試論用電磁法評(píng)價(jià)異常源性質(zhì)的可能性和局限性。

11.在電阻率為100Ω·m的均勻介質(zhì)中傳播1000 Hz的平面電磁波,試計(jì)算電磁系數(shù)m及趨膚深度δ（已知εr＝36）。

12.比較f＝1000 Hz的電磁波在空氣中和電阻率為10Ω·m的導(dǎo)電介質(zhì)中的波長(zhǎng)。

13.在我國(guó)的某一工區(qū)開(kāi)展大地電磁測(cè)深工作,所使用儀器的頻率范圍為320～0.001Hz,已知地下的平均電阻率為100Ω·m,求大地電測(cè)深在該區(qū)工作的最大穿透深度是多少?

　探地雷達(dá)

11.6.1　基本原理

探地雷達(dá)（Geologic Radar或Earth Pobing Radar）主要研究電磁波在介質(zhì)中傳播的速度，介質(zhì)對(duì)電磁波的吸收，以及電磁波在介質(zhì)交界面的反射。

11.6.1.1　電磁波在介質(zhì)中的傳播速度

探地雷達(dá)測(cè)量的是地下界面的反射波走時(shí) t，為了獲取地下界面的深度 h=tv/2，必須有介質(zhì)的電磁波傳播速度v：

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式中：c為真空中電磁波傳播速度，c=0.3m/ns；ε，為相對(duì)介電常數(shù)，是介質(zhì)介電常數(shù)ε與真空的介電常數(shù)ε0的比值。

11.6.1.2　電磁波在介質(zhì)中的吸收特性

吸收系數(shù)α決定了場(chǎng)強(qiáng)在傳播過(guò)程中的衰減率，對(duì)非良導(dǎo)電、非磁性介質(zhì)，α的近似值為

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即α與導(dǎo)電率σ成正比，與介質(zhì)導(dǎo)磁率μ和介電常數(shù)ε比值的平方根成正比。

11.6.1.3　反射定律與反射系數(shù)

電磁波（又稱入射波）到達(dá)介質(zhì)的電性分界面時(shí)，會(huì)發(fā)生反射，被界面反射而返回的電磁波稱為反射波。反射波與入射波界面處的運(yùn)動(dòng)學(xué)特征（即傳播方向）遵循反射定律，即入射角θi（入射方向與界面法線向的夾角）等于反射角θr（反射方向與界面法線方向的夾角）。

電磁波在到達(dá)界面時(shí)，還將發(fā)生能量的再分配。入射波、反射波和折射波三者之間能量關(guān)系，因入射波電磁場(chǎng)相對(duì)界面的方向（極化特性）不同而異。當(dāng)電場(chǎng)平行于界面時(shí)，電磁波從介質(zhì)1入射到介質(zhì)2時(shí)的電場(chǎng)反射系數(shù) R12為

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對(duì)于非磁性、非良導(dǎo)電介質(zhì)，

。垂直入射時(shí)11.6.2　觀測(cè)方法

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探地雷達(dá)盡管型號(hào)很多，但都可以看成是由接收、發(fā)射兩部分組成。發(fā)射部分通過(guò)天線向地下發(fā)射超高頻寬帶短脈沖電磁波，接收部分通過(guò)天線接收來(lái)自地下介質(zhì)交界面的反射電磁波。目前常用的探地雷達(dá)觀測(cè)方式有剖面法和寬角法兩種。

11.6.2.1　剖面法

剖面法是發(fā)射天線（T）和接收天線（R）以固定間距沿測(cè)線同步移動(dòng)的一種測(cè)量方式。當(dāng)發(fā)射天線與接收天線間距為零，亦即發(fā)射天線與接收天線合二為一時(shí)，稱為單天線形式，反之稱為雙天線形式。剖面法的測(cè)量結(jié)果可以用探地雷達(dá)時(shí)間剖面圖像來(lái)表示。該圖像的橫坐標(biāo)記錄了天線在地表的位置；縱坐標(biāo)為反射波雙程走時(shí)，表示雷達(dá)脈沖從發(fā)射天線出發(fā)經(jīng)地下界面反射回到接收天線所需的時(shí)間。這種記錄能準(zhǔn)確反映測(cè)線下方地下各發(fā)射界面的形態(tài)。圖11-8為剖面法示意圖及其雷達(dá)圖像剖面。

圖11-8　剖面法示意圖及雷達(dá)圖像

11.6.2.2　寬角法

為了原位測(cè)量地下介質(zhì)的電磁波速度，在探地雷達(dá)工作中還常采用寬角法或共中點(diǎn)法觀測(cè)方式。一個(gè)天線固定在地面某一點(diǎn)上不動(dòng)，而另一天線沿測(cè)線移動(dòng)，記錄地下各個(gè)不同界面反射波的雙程走時(shí)，這種測(cè)量方式稱為寬角法。也可以用兩個(gè)天線，在保持中心點(diǎn)位置不變的情況下，改變兩個(gè)天線之間距離，記錄反射波雙程走時(shí)，這種測(cè)量方式稱為共中心點(diǎn)法。當(dāng)?shù)叵陆缑嫫街睍r(shí)，這兩種方法結(jié)果一致。這兩種測(cè)量方法的目的是求取地下介質(zhì)的電磁波傳播速度。圖11-9是共中心點(diǎn)觀測(cè)方式示意圖及其雷達(dá)圖像。

深度為h的地下水平界面的反射波雙程走時(shí)t滿足：

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式中：x為發(fā)射天線與接收天線之間的距離；h為反射界面的深度；v為電磁波的傳播速度。當(dāng)?shù)貙与姶挪ㄋ俣葀不變時(shí)，t2與x2成線性關(guān)系。用寬角法或共中心點(diǎn)法測(cè)量得到地下界面反射波雙程走時(shí)t，再利用公式（11.9）就可求得地層的電磁波速度。

11.6.3　技術(shù)要求

11.6.3.1　測(cè)線布置原則

探地雷達(dá)的野外工作常常是沿測(cè)線進(jìn)行的，沿測(cè)線采集到的數(shù)據(jù)經(jīng)處理后的成果就是探地雷達(dá)剖面（時(shí)間剖面或深度剖面），它是探地雷達(dá)資料解釋的基本依據(jù)。測(cè)線布置的基本原則如下。

（1）主測(cè)線應(yīng)垂直地下目標(biāo)體走向，輔助測(cè)線平行目標(biāo)體走向，目的是更好地反映目標(biāo)體形態(tài)，同時(shí)也可以避免大量異常波的出現(xiàn)；

圖11-9　共中心點(diǎn)觀測(cè)方式與雷達(dá)圖像

（2）測(cè)線應(yīng)盡量通過(guò)已有的井位，以利于地層的對(duì)比。

11.6.3.2　分辨率

分辨率是地球物理方法分辨最小異常體的能力。分辨率可分為垂向分辨率與橫向分辨率。類似于地震勘探，通常將探地雷達(dá)剖面中能夠區(qū)分一個(gè)以上反射界面的能力稱為垂向分辨率。

為了研究方便，選用處于均勻介質(zhì)中一個(gè)厚度逐漸變薄的地層模型。電磁波垂直入射時(shí)，則有來(lái)自地層頂面、底面的反射波以及層間的多次波。多次波的能量較弱，所得到的雷達(dá)信號(hào)為頂面反射波與底面反射波的合成。依照相應(yīng)地層厚度的時(shí)間關(guān)系所得地層頂面的反射波合成雷達(dá)信號(hào)見(jiàn)圖11-10。由圖可知，可取地層厚度 h=A/4作為垂直分辨率的下限。

探地雷達(dá)在水平方向上所能分辨的最小異常體的尺寸稱為橫向分辨率。雷達(dá)剖面的橫向分辨率通?？捎梅颇鶢枎Ъ右哉f(shuō)明。設(shè)地下有一水平反射面，以發(fā)射天線為圓心，以其界面的垂距為半徑，作一圓弧與反射界面相切，此圓弧代表雷達(dá)到達(dá)此界面時(shí)的波前，再以多出1/4及1/2子波長(zhǎng)度的半徑畫弧，在水平面界面的平面上得到兩個(gè)圓。其內(nèi)圓稱為第一菲涅爾帶，兩圓之間的環(huán)形帶稱作第二菲涅爾帶。根據(jù)波的干涉原理，法線反射波與第一菲涅爾帶外緣的反射波的光程差λ/2（雙程光路），反射波之間發(fā)生相長(zhǎng)性干涉，振幅增強(qiáng)。第一帶以外諸帶彼此消長(zhǎng)，對(duì)反射的貢獻(xiàn)不大，可以不考慮。設(shè)反射界面的埋深為 h，發(fā)射、接收天線的距離遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于h時(shí)，第一菲涅爾帶半徑可按下式計(jì)算：

圖11-10　地層厚度對(duì)波形影響示意圖（據(jù)Widess　1973修改）

（a）為反射射線圖解，b為地層厚度；（b）為單個(gè)反射波形，利用地層厚度算出的時(shí)間延遲把得自頂?shù)捉缑娴膯蝹€(gè)反射波形相加，即得到如（c）中的波形；（c）為復(fù)合反射波形，它是地層厚度的函數(shù)，T為入射子波主周期，λ2=tv為地層內(nèi)的波長(zhǎng)。等時(shí)線間隔為t/2。標(biāo)有x的線為波谷時(shí)間線，點(diǎn)線為零振幅時(shí)間線，為各復(fù)合子法的中心線；（d）為振幅與視厚度的定義

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式中：λ為雷達(dá)子波的波長(zhǎng)；h為異常體的埋藏深度。

圖11-11為處于同一埋深、間距不同的兩個(gè)金屬管道的探地雷達(dá)圖像。該圖像在水槽中獲得，實(shí)驗(yàn)使用鐵管φ5cm，鋼管φ3cm。測(cè)量時(shí)使用中心頻率為100MHz天線，其在水中的子波波長(zhǎng)λ＝0.33m。從圖中可以看出一些內(nèi)容：①處在深度為1.06m的φ3cm鐵管仍可以很清晰地為探地雷達(dá)所分辨，由于其管徑約為0.1rf，說(shuō)明探地雷達(dá)對(duì)單個(gè)異常體的橫向分辨率要遠(yuǎn)小于第一菲涅爾帶的半徑。②圖11-10(a）兩管間距0.5m大于第一菲涅爾帶半徑，由雷達(dá)圖像可以準(zhǔn)確把兩管水平位置確定出來(lái)；（b）兩管間距0.4m小于第一菲涅爾帶半徑rf=0.42m，已很難用雷達(dá)圖像確定兩管精確位置。這表明區(qū)分兩個(gè)水平相鄰的異常體，其最小橫向距離要大于第一菲涅爾帶半徑。

11.6.3.3　探測(cè)距離與探距方程

探地雷達(dá)能探測(cè)最深目標(biāo)體的距離稱為探地雷達(dá)的深測(cè)距離。當(dāng)雷達(dá)系統(tǒng)選定后，系統(tǒng)的增益 Q。就確定。Qs為最小可探測(cè)的信號(hào)功率 Wmin與輸入到發(fā)射天線的功率Wt之比，即：

圖11-11　兩個(gè)同深金屬管的地質(zhì)雷達(dá)圖像

（a）鋼管（右）直徑3cm，頂深1.06m；鐵皮管（左）直徑5cm，頂深1.04m，管中心距0.5m;（b）鋼管（右）頂深0.52m；鐵皮管（左）頂深0.5m，管中心距0.4m;（c）鋼管（右）頂深1.04m；鐵皮管（左）頂深1.06m，管中心距0.4m

地質(zhì)災(zāi)害勘查地球物理技術(shù)手冊(cè)

探地雷達(dá)從發(fā)射到接收的過(guò)程中能量會(huì)逐漸損耗。雷達(dá)系統(tǒng)從發(fā)射到接收過(guò)程中的功率損耗 Q可由雷達(dá)探距方程來(lái)描述。

地質(zhì)災(zāi)害勘查地球物理技術(shù)手冊(cè)

式中：ηt、ηr分別為發(fā)射天線與接收天線的效率；Gt、Gr分別為在入射方向與接收方向上天線的方向性增益；g為目的體向接收天線方向的后向散射增益；σ為目的體的散射截面；α為介質(zhì)的吸收系數(shù)；r為天線到目的體的距離；λ為雷達(dá)子波在介質(zhì)中的波長(zhǎng)。

滿足Qs+Q＞0的最大距離r，稱為探地雷達(dá)的深測(cè)距離，亦即處在距離 r范圍內(nèi)的目的體的反射信號(hào)可以為雷達(dá)系統(tǒng)所探測(cè)。

11.6.3.4　探地雷達(dá)方法有效性評(píng)價(jià)

每接受一個(gè)探地雷達(dá)測(cè)量任務(wù)，都需要對(duì)探地雷達(dá)解決地質(zhì)問(wèn)題的有效性進(jìn)行評(píng)價(jià)，以確定探地雷達(dá)測(cè)量能否取得預(yù)期效果。

（1）目標(biāo)體深度是一個(gè)非常重要的問(wèn)題。如果目標(biāo)體深度超出雷達(dá)系統(tǒng)探測(cè)距離，則探地雷達(dá)方法就要被排除。雷達(dá)系統(tǒng)探測(cè)距離可根據(jù)雷達(dá)探距方程（11.12式）進(jìn)行計(jì)算。

（2）目標(biāo)體幾何形態(tài)（尺寸與取向）必須盡可能了解清楚，包括高度、長(zhǎng)度與寬度。目標(biāo)體的尺寸決定了雷達(dá)系統(tǒng)可能具有的分辨率，關(guān)系到天線中心頻率的選用。如果目標(biāo)體為非等軸狀，則要搞清目標(biāo)體走向、傾向與傾角，這些將關(guān)系到測(cè)網(wǎng)的布置。

（3）目標(biāo)體的電性（介電常數(shù)與導(dǎo)電率）必須搞清。雷達(dá)方法成功與否取決于是否有足夠的反射或散射能量為系統(tǒng)識(shí)別。當(dāng)圍巖與目標(biāo)體相對(duì)介電常數(shù)分別為εh與εT時(shí)，目標(biāo)體功率反射系數(shù)的估算式為：

地質(zhì)災(zāi)害勘查地球物理技術(shù)手冊(cè)

一般說(shuō)目標(biāo)體的功率反射系數(shù)應(yīng)大于0.01。

（4）測(cè)區(qū)的工作環(huán)境必須搞清。當(dāng)測(cè)區(qū)內(nèi)存在大范圍金屬構(gòu)件并成為無(wú)線電射頻源時(shí)，將對(duì)測(cè)量構(gòu)成嚴(yán)重干擾，在進(jìn)行資料解釋時(shí)必須加以排除。

11.6.4　信號(hào)處理

11.6.4.1　濾波技術(shù)

探地雷達(dá)測(cè)量中，為了保持更多的反射波特征，多采用寬頻帶進(jìn)行記錄，但在記錄各種有效波的同時(shí)，也記錄了各種干擾波。一維濾波技術(shù)就是利用頻譜特征的不同來(lái)壓制干擾波，以突出有效波，它包括一維頻率域?yàn)V波和一維時(shí)間域?yàn)V波。

探地雷達(dá)數(shù)據(jù)中，有時(shí)有效波和干擾波的頻譜成分十分接近甚至重合，這時(shí)無(wú)法用頻率濾波壓制干擾，需要用有效波和干擾波在空間位置上的差異進(jìn)行濾波。這種濾波要同時(shí)對(duì)若干道進(jìn)行計(jì)算才能得到輸出，因此是一種二維濾波。

二維濾波原理是建立在二維傅里葉變換基礎(chǔ)上的。沿地面觀測(cè)頻率波數(shù)譜 G（ω，kx）是頻譜的時(shí)空函數(shù)。

地質(zhì)災(zāi)害勘查地球物理技術(shù)手冊(cè)

地質(zhì)災(zāi)害勘查地球物理技術(shù)手冊(cè)

上式說(shuō)明，g(t,x）是由無(wú)數(shù)圓頻率為ω＝2πf，波數(shù)為kx的平面簡(jiǎn)諧波所組成，它們沿測(cè)線以視速度v＊傳播。

如果有效波和干擾波的平面簡(jiǎn)諧波成分有差異，有效波的平面諧波成分與干擾波的平面諧波成分以不同的視速度傳播，則可用二維視速度濾波將它們分開(kāi)，達(dá)到壓制干擾、提高信噪比的目的。

11.6.4.2　二維偏移歸位處理方法

探地雷達(dá)測(cè)量的是來(lái)自地下介質(zhì)交界面的反射波。偏離測(cè)點(diǎn)的地下介質(zhì)交界面的反射點(diǎn)只要其法平面通過(guò)測(cè)點(diǎn)，都可以被記錄下來(lái)。在資料處理中需要把雷達(dá)記錄中的每個(gè)反射點(diǎn)移到其本來(lái)位置，這種處理方法被稱為偏移歸位處理。經(jīng)過(guò)偏移處理的雷達(dá)剖面可反映地下介質(zhì)的真實(shí)位置。常用的偏移歸位方法有繞射偏移、波動(dòng)方程偏移和克?；舴蚍e分偏移，有關(guān)偏移方法可參考相關(guān)地球物理信號(hào)處理書籍。

11.6.5　數(shù)據(jù)處理方法

數(shù)據(jù)處理的目的是對(duì)原始雷達(dá)記錄進(jìn)行初步加工處理，使實(shí)測(cè)的雷達(dá)資料更便于計(jì)算機(jī)處理。常用的處理方法有不正常道處理與多次疊加處理。

當(dāng)天線與地面接觸不良，或者由于發(fā)射電路工作不正常產(chǎn)生廢記錄道，在預(yù)處理時(shí)必須廢除該道記錄，并用相鄰道的均值補(bǔ)全。

在地下介質(zhì)對(duì)電磁波吸收較強(qiáng)的測(cè)區(qū)，為了增加來(lái)自地下深處的信息，加大探地雷達(dá)的探測(cè)深度，常常使用多次疊加技術(shù)。目前適用于探地雷達(dá)多次疊加處理的測(cè)量方法有兩種：一種是多天線雷達(dá)測(cè)量系統(tǒng)，應(yīng)用一個(gè)發(fā)射天線，多個(gè)接收天線同時(shí)進(jìn)行測(cè)量；另一種是多次覆蓋測(cè)量，使用幾種不同天線距的發(fā)射—接收天線沿測(cè)線進(jìn)行重復(fù)測(cè)量。多次覆蓋測(cè)量在同一測(cè)點(diǎn)上有幾組共反射點(diǎn)的雷達(dá)數(shù)據(jù)，經(jīng)天線距校正后，進(jìn)行疊加使得來(lái)自地下的反射波得到加強(qiáng)，而干擾波信號(hào)大大減弱，從而增加了探測(cè)深度。

11.6.6　成果表達(dá)形式

（1）探地雷達(dá)實(shí)際材料圖集中顯示雷達(dá)測(cè)網(wǎng)布置；

（2）雷達(dá)剖面成果圖顯示雷達(dá)測(cè)線下地層與構(gòu)造形態(tài)；

（3）平面等值線圖表達(dá)測(cè)線范圍內(nèi)某些目的層分布特征，其中包括基巖高程圖、目的層等深圖等；

（4）雷達(dá)推測(cè)成果圖，包括推斷構(gòu)造分布、滑體范圍成果圖，巖溶平面分布圖等；

（5）三維雷達(dá)成果，包括垂直切片圖、水平切片圖、三維體顯示以及格柵顯示圖。

11.6.7　資料解釋原則

探地雷達(dá)資料的地質(zhì)解釋是探地雷達(dá)測(cè)量的目的，這項(xiàng)工作通常是在數(shù)據(jù)處理后所得到的探地雷達(dá)圖像剖面中，根據(jù)反射波組的波形與強(qiáng)度特征，通過(guò)同相軸的追蹤，確定反射波組的地質(zhì)含義，構(gòu)筑地質(zhì)—地球物理解釋剖面并依據(jù)剖面解釋獲得整個(gè)測(cè)區(qū)最終成果圖，為地質(zhì)災(zāi)害的治理方案提供依據(jù)。

探地雷達(dá)資料反映的是地下介質(zhì)的電性分布，要把地下介質(zhì)的電性分布轉(zhuǎn)化為地質(zhì)情況，必須要把地質(zhì)、鉆探、探地雷達(dá)這三方面的資料結(jié)合起來(lái)，建立測(cè)區(qū)的地質(zhì)—地球物理模型，并以此得到地下地質(zhì)模式。

11.6.7.1　雷達(dá)剖面與地質(zhì)剖面的關(guān)系

雷達(dá)剖面不是地質(zhì)剖面的簡(jiǎn)單反映，兩者既有內(nèi)在聯(lián)系，又有區(qū)別。

（1）雷達(dá)反射界面與地層界面的關(guān)系

雷達(dá)反射界面是電性界面，而地質(zhì)剖面反映的是巖層界面。地層劃分的依據(jù)是巖性、生物化石種類及沉積時(shí)間等。地質(zhì)剖面中由于沉積間斷或巖性差異而形成的面，如斷層面、侵蝕不整合面、流體分界面及不同巖性的分界面，均可成為反射面，這時(shí)反射面與地質(zhì)分界面是一致的，即大多數(shù)雷達(dá)反射面大體上反映地層界面的形態(tài)。然而在許多情況下，反射面與鉆井或測(cè)井所得到的地質(zhì)剖面的地層分界面并不一致。主要體現(xiàn)在以下幾種情況：

首先是有些埋藏深的古老地層，在長(zhǎng)期的構(gòu)造運(yùn)動(dòng)和壓力的作用下，相鄰地層可能有相近的波阻抗，因而地質(zhì)上的層面不足以構(gòu)成反射面。

其次，同一巖性的地層，其中既無(wú)層面又無(wú)巖性分界面，但由于巖層中所含流體成分不同，而構(gòu)成物性界面，如飽水帶與飽氣帶界面，因而雷達(dá)反射界面有時(shí)也并非是地質(zhì)界面。

再次，雷達(dá)反射面是以同相軸表達(dá)的，當(dāng)多個(gè)薄層組成多個(gè)地質(zhì)界面時(shí)，在雷達(dá)剖面中由于雷達(dá)子波有一定的延續(xù)度使多個(gè)薄層界面的反射波疊加成復(fù)合波形，從而產(chǎn)生反射波界面與地層界面的不一致。

（2）雷達(dá)反射界面的幾何形態(tài)與地質(zhì)構(gòu)造關(guān)系

雷達(dá)反射波剖面圖像一般可以定性反映地質(zhì)構(gòu)造形態(tài)，尤其當(dāng)構(gòu)造形態(tài)比較簡(jiǎn)單時(shí)，反射波同相軸的幾何形態(tài)所反映的地質(zhì)構(gòu)造是直觀的、明顯的。但由于分辨率限制及其噪聲，雷達(dá)剖面反映構(gòu)造細(xì)節(jié)有限，使兩者之間存在不少差別。

首先，雷達(dá)剖面通常是時(shí)間剖面而地質(zhì)剖面是深度剖面。雷達(dá)時(shí)間剖面要經(jīng)過(guò)時(shí)深轉(zhuǎn)換后才能成為深度剖面。時(shí)深轉(zhuǎn)換后的雷達(dá)深度剖面與地質(zhì)剖面的符合程度，主要取決于速度資料的可靠程度。速度不準(zhǔn)，會(huì)導(dǎo)致雷達(dá)深度剖面上的反射層與地質(zhì)剖面上的真實(shí)地層不符，甚至?xí)饦?gòu)造畸變。

其次，由于雷達(dá)波的垂向分辨率的限制，致使在薄層情形下，雷達(dá)反射層與地質(zhì)層位往往不是一一對(duì)應(yīng)的，有可能一個(gè)地質(zhì)界面對(duì)應(yīng)多個(gè)雷達(dá)相位，多個(gè)薄的地層界面對(duì)應(yīng)多個(gè)雷達(dá)相位。

再次，只要觀測(cè)點(diǎn)處在界面的法線上，就會(huì)接收到旁側(cè)界面的反射波，使雷達(dá)剖面上所反映的地質(zhì)構(gòu)造在空間上發(fā)生了偏移。尤其當(dāng)?shù)刭|(zhì)構(gòu)造比較復(fù)雜時(shí)，雷達(dá)剖面上反射波同相軸的幾何圖形并不能直接反映復(fù)雜構(gòu)造的真實(shí)形態(tài)，甚至面目全非，給雷達(dá)資料帶來(lái)很多假象，使得雷達(dá)剖面解釋存在多解性。

11.6.7.2　雷達(dá)時(shí)間剖面對(duì)比

時(shí)間剖面的對(duì)比就是在雷達(dá)反射波時(shí)間剖面上，根據(jù)反射波的運(yùn)動(dòng)學(xué)和動(dòng)力學(xué)的特征來(lái)識(shí)別和追蹤同一反射界面反射波的過(guò)程。它實(shí)際上包括兩方面的工作，一個(gè)工作是在某條剖面上根據(jù)相鄰接收點(diǎn)反射波的某些特點(diǎn)來(lái)對(duì)比同一界面反射波，一般叫波的對(duì)比；另一個(gè)工作是在相鄰多條雷達(dá)剖面上追蹤同一界面的反射波，稱為時(shí)間剖面的對(duì)比。在時(shí)間剖面上對(duì)比反射波，嚴(yán)格地說(shuō)應(yīng)該對(duì)比反射波的初至。但是，由于反射波是在各種干擾背景下記錄下來(lái)的，當(dāng)子波為最小相位時(shí)，其初至很難辨認(rèn)。為了便于對(duì)比，總是利用剖面上比較明顯的波形相位對(duì)比。一個(gè)反射界面在雷達(dá)剖面上往往包含有幾個(gè)強(qiáng)度不等的同相軸，選其中振幅最強(qiáng)、連續(xù)性最好的某個(gè)同軸相進(jìn)行追蹤，這叫做強(qiáng)相位對(duì)比，有時(shí)反射層無(wú)明顯的強(qiáng)相位，可對(duì)比反射波的全部或多個(gè)相位，這稱為多相位對(duì)比。另外還可以利用波組和波系進(jìn)行對(duì)比。波組是指由三四個(gè)數(shù)目不等的同相軸組合在一起形成的，或指比較靠近的若干界面所產(chǎn)生的反射波組合。由兩個(gè)或兩個(gè)以上波組所組成的反射波系列，稱為波系。利用這些組合關(guān)系進(jìn)行波的對(duì)比，可以更全面考察反射層之間的關(guān)系。因?yàn)閺牡刭|(zhì)觀點(diǎn)來(lái)說(shuō)，相鄰地層界面的厚度間隔、幾何形態(tài)是有一定聯(lián)系的，沿橫向變化是漸變的，反映在時(shí)間剖面上反射波在時(shí)間間隔、波形特征等方面也是有一定規(guī)律的。有時(shí)在剖面的某段長(zhǎng)度內(nèi)，因某種原因（如巖性橫向變化）有的同相軸質(zhì)量較差（振幅弱、連續(xù)性差），我們可以根據(jù)反射波相互之間總的趨勢(shì)的極值點(diǎn)（波峰或波谷）依次對(duì)比同相位。所以波的對(duì)比又稱為波的相位對(duì)比或稱同相軸對(duì)比。

11.6.8　儀器設(shè)備

探地雷達(dá)儀器設(shè)備見(jiàn)表11-6。

表11-6　探地雷達(dá)一覽表

參考文獻(xiàn)

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探地雷達(dá)的探地雷達(dá)技術(shù)參數(shù)

1）雷達(dá)系統(tǒng)控制器計(jì)算機(jī)（工業(yè)一體式專用電腦地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求，強(qiáng)抗震性能設(shè)計(jì)）地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求：

處理器地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求：Intel Celeron 400MHz或更好配置

雷達(dá)界面卡：專用

內(nèi)存：≥512MB

硬盤（編程和存儲(chǔ)）：≥4G

顯示器： 10.4英寸超高亮度透反射日光下可讀彩色液晶顯示器

電源：10.5～18 VDC@ 45W（室內(nèi)可交流電直接供電，室外可由充電電池提供電源）

基于Windows XP操作系統(tǒng)地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求的全屏幕菜單系統(tǒng)，內(nèi)置雷達(dá)數(shù)據(jù)采集和處理控制軟件

觸摸屏界面，可外接使用鍵盤和鼠標(biāo)

提供以下輸入/輸出端口：雷達(dá)界面接口，兩個(gè)USB接口，電源接口

2）天線控制單元：

總體動(dòng)態(tài)范圍：130dB

接收器動(dòng)態(tài)范圍：90dB

最小時(shí)間范圍：6.3ns

最大時(shí)間范圍：820ns

脈沖重復(fù)時(shí)間：1μs

有效帶寬：3GHz

3）可與100MHz、250 MHz、500 MHz、1000 MHz和2000 MHz屏蔽天線配合使用，以滿足不同地災(zāi)資質(zhì)探地雷達(dá)要求的探測(cè)深度要求。